VAE 潜空间：重参数化、KL 与插值

观察要点

1. VAE 的损失 = 重构误差 + KL(q(z|x) ‖ p(z))，后者让潜空间规整、便于采样。
2. 重参数化技巧把随机性移到 ε 上，使采样过程可导。
3. 连续、规整的潜空间使插值和随机生成都有意义。

相关章节：第 13 章 深度生成模型。